法国原子能和替代能源委员会旗下Liten研究团队发现，随着光伏系统电压升高，电势诱导衰减（PID）风险明显加剧，同时封装材料的电导率对组件退化程度具有重要影响。研究首次在最高6,000V测试条件下识别出由局部放电引发的“电树枝化”退化机制。在测试中，高电压条件下组件正面和背面最大功率损失分别达到13.5%和19.5%。研究结果为未来高电压光伏系统的封装材料选择及长期可靠性设计提供了新的参考。